使用光觀察物質時，物質的外觀會根據光的能量（顏色）而變化。同樣，當使用電子觀察物質時，物質的外觀會因電子的能量而發生很大變化。因此，要詳細了解物質，就需要在改變光和電子能量的同時，觀察物質外觀的變化。這就是光譜顯微技術。
這一次，東京理科大學等研究團隊開發了一種技術，通過一種新方法實現了具有寬動態範圍的光譜電子顯微鏡，這很難投入實際使用。
在以往的方法中，一邊改變單色電子束的能量一邊照射進行觀察，但在新方法中，使用單色電子束照射物質時產生的二次電子作為束源。已經進行了思考。由於二次電子具有較寬的能量分佈，因此只需設計測量模式和數據的數理統計處理，就可以一次在較寬的能量範圍內進行測量。
為了實現這項技術，問題在於去除二次電子中包含的背景信號，為此我們應用了天文學發展起來的四點測量方法，準確地獲得了微弱的恆星信號。還證實，經統計處理後的實測值與理論值吻合較好。
可以說，這項技術對於納米薄膜的研究非常重要，納米薄膜通常很難檢測到它們的存在，而且很難保證大面積的質量均勻性。
論文信息：[Nature Communications] 用於納米材料表徵的虛擬襯底方法
