由日本宇宙航空研究開發機構（JAXA）、國立極地研究所、早稻田大學等國內外機構組成的研究小組將安裝在國際空間日本實驗艙“Kibo”的舷外實驗平台上站（ISS） 利用日本研發的三個觀測裝置歷時兩年半的同時觀測數據，我們成功測量了“電子集中暴雨”造成的暴露劑量。
國際空間站在夜間通過高磁緯度時，可能會遇到電子下落數分鐘的現象（相對論電子下降現象/REP現象）。 在 REP 現象期間，該區域的輻射電子數量在正常時間會增加數百到數千倍，因此宇航員在 EVA 期間暴露的影響，尤其是對眼睛（鏡頭）的影響是一個值得關注的問題。
為了測量照射劑量，有必要知道輻射電子的數量和它們的能量分佈。此次，除了能夠進行高低能電子計數的全天X射線監測裝置（MAXI）和高能電子/伽馬射線望遠鏡（CALET）之外，空間環境測量任務裝置（使用 SEDA-AP)。 REP事件由MAXI和CALET確定，並觀察SEDA-AP檢測到REP時的能譜。結果，在大約兩年半的時間裡，REP現像中發現了2個事件。計算暴露劑量的結果發現，在國際空間站船上最大的 REP 事件中，暴露劑量可以達到安靜環境中一天接受的暴露劑量的數倍。
雖然這一水平的照射劑量不會直接影響飛行員的健康，但輻射對晶狀體的影響與劑量率和累積劑量都有關，照射劑量越低越好。可以提前預測 REP 事件的發生。
