東京大學工學研究科副教授 Naoya Shibata、特聘研究員 Taketo Seki 和 Yuichi Ikuhara 教授的研究小組開發了最先進的掃描透射電子顯微鏡 (STEM) 方法和多-分段，我們在世界上第一次成功地使用類型探測器直接觀察到分佈在一個金原子內部的電場。該成果於2017年5月30日發表在美國科學期刊《自然通訊（網絡公告版）》上。
到目前為止，用電子顯微鏡直接觀察原子的內部結構（原子核和圍繞它的電子云）是很困難的，但這次，該組處於最前沿，分辨率為 0.05 納米 (nm) 或使用 STEM 和最初開發的多段探測器，我們在世界上首次成功地可視化了電場是如何從金原子內部的正電子核向負電子云爆發的。
目前，電子顯微鏡不僅廣泛應用於物理化學、電子信息工程等基礎研究領域，還廣泛應用於半導體器件、醫療、IT、能源創造、節能等各種工業領域。提高電鏡性能將是顯著提高這些領域納米技術研發水平和效率的驅動力。這項研究表明，日本的電子顯微鏡技術水平是世界上最高的，並為提高各個領域的納米技術研發提供了機會。
