在許多材料中，微量異種元素的添加往往會發揮其性能，了解添加元素對原子結構的影響對於提高性能非常重要。

在本研究中，我們確定了含有錳 (Mn) 作為雜質的碲化鉍 (Bi2Te3) 的 Mn 摻雜位點（位置）。這種材料是“拓撲絕緣體”之一，作為新型節能、高速計算機材料而備受關注，內部是絕緣體，不導電，但表面電阻幾乎為零。

這次，為了準確獲得雜質周圍的原子排列，我們將傳統的X射線吸收精細結構光譜（XAFS）與新的X射線熒光全息術（XFH）方法相結合。此外，通過採用一種稱為“稀疏建模”的新分析方法代替傳統的數學方法（傅里葉變換），我們能夠非常清晰地再現碲化鉍中雜質Mn的原子圖像。

通過應用該技術，我們可以明確由添加元素控制性能的半導體材料和磁性材料的功能，有望為新材料的開發提供新的指導。

此外，該成果是與廣島市立大學、名古屋工業大學、廣島工業大學、富山大學、山形大學等多個研究機構共同研究的成果。中小型大學的研究人員從提出研究主題到製備樣本、進行實驗、分析數據等各個方面都相互合作，在社會貢獻方面也具有重要意義。

論文信息：[物理評論B]通過X射線熒光全息術和X射線吸收精細結構研究Mn摻雜Bi2Te3拓撲絕緣體中的雜質位置和晶格畸變